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                    1. 產品分類Product

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                      鎢燈絲掃描電子顯微鏡EVO MA 25/LS 25
                      產品型號:EVO MA 25/LS 25
                      企業名稱:石家莊飛泰檢測儀器有限公司
                      產品品牌:德國卡爾蔡司公司
                      立即詢價


                      鎢燈絲掃描電子顯微鏡EVO MA 25/LS 25

                      詳細描述:

                       品牌:卡爾·蔡司
                       型號:EVO MA 25/LS 25
                       制造商:德國卡爾蔡司公司
                       經銷商:石家莊飛泰有限公司

                       【品牌故事】 
                          光學品牌,可見光及電子光學----德國蔡司公司始創于1846年。其電子光學前身為LEO(里奧),更早叫Cambridge(劍橋),積掃描電鏡領域40多年及透射電鏡領域60年的經驗:

                        

                          CARL ZEISS以其前瞻的設計融合歐洲制造工藝造就了該品牌在光電子領域無可撼動的地位。自成立至今,一直延續不斷創新的傳統,公司擁有電鏡制造先進的專有技術,隨著離子束技術和基于電子束的分析技術的加入、為您提供鎢燈絲掃描電鏡、場發射掃描電鏡、雙束顯微鏡(FIB and SEM)、透射電子顯微鏡等全系列解決方案的電鏡制造企業。其產品的高性能、高質量、高可靠性和穩定性已得到廣大用戶的信賴與認可。

                      【總體描述】
                             EVO系列電鏡是高性能、功能強大的高分辨應用型掃描電子顯微鏡。EVO MA 25用于材料領域,LS 25用于生命科學領域。該系列電鏡采用多接口的大樣品室和藝術級的物鏡設計,提供高低真空成像功能,可對各種材料表面作分析,并且具有業界先進的X射線分析技術。革命性的Beamsleeve的設計,確保在低電壓條件下提供高分辨率的銳利圖像,同時還可以進行準確的能譜分析。樣品臺為五軸全自動控制。標準的無油渦輪分子泵能夠滿足快速的樣品更換成像分析。

                      【技術參數】
                          分辨率:3.0nm@ 30KV(SE and W)     
                                   4.0nm@ 30KV(VP with BSD) 
                           加速電壓:0.2—30KV 
                           放大倍數:5—1000000x 
                           探針電流:0.5PA-5μA
                           X-射線分析工作距離:8.5mm    35度接收角 
                           低真空壓力范圍:10—400Pa (LS25:10-3000Pa)
                           工作室:420mm(φ)×330mm(h) 
                           5軸試樣載物臺:X=130mm  Y=130mm  Z=50mm  T=-10°- 90°R=360°

                           大試樣高度:210mm,試樣大直徑:300mm 
                           系統控制:基于Windows 7 的SmartSEM操作系統

                      【主要特點】
                           樣品高度可達210mm  
                           大樣品重量5Kg  
                           大的樣品直徑300mm  
                           在可變壓力下操作 
                           高亮度LaB6資源選擇 
                           光線套選擇

                      【產品應用】
                               掃描電鏡(SEM)廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學、化工、石油、地質礦物學、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀察,材料斷口分析和失效分析,材料實時微區成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶粒取向測量。

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